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COC老化与测试

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为保证COC生产的良率,COC芯片在生产工艺过程中,需要经过老化筛选、芯片测试环节,普赛斯设计了老化系统和测试机,装载芯片的夹具兼容在老化抽屉和测试机的使用,在老化和测试工艺过程中可避免重复上下料,一站式完成COC芯片的生产。可同时支持1280颗芯片的老化,提高生产产能

       


方案框图

       

COC芯片上料到夹具上,夹具放置在抽屉中,抽屉可插入单层老化箱中,多层老化箱可搭入机架,形成COC老化系统,实现对芯片的温度和加电控制,并通过老化软件实时监控老化数据。

老化之后的芯片,不需要从夹具上取下来,直接将夹具放到COC测试机上测试,COC测试机支持芯片的LIV扫描,通过测试软件可控制光谱仪,实现光谱测试。

方案特点


1. 极易操作:上料采用导向槽操作,对于小尺寸产品上料简单、容易、安全

2. 独立的抽屉式:每个抽屉可适用于不同封装的产品,只需要更换底部夹具,抽屉式设计确保整体温度均匀性良好

3。 EOS防护:采取缓加电、缓下电方式,做了各种异常上电、下电的防护,使老化测试过程的COC芯片安全

4. 异常电源保护:内置UPS,保证异常断电时客户chip的安全

5. 数据库存储:外置电脑,一套软件监控一台设备,过程数据存储于本地或者服务器数据库

6. 精准LIV测试:TEC精准控温下支持chipLIV快速测试以及光谱测试


方案详情


方案配置主要由COC老化系统(PSS COC-BI-S-I)和测试机(PSS COCT2000)组成,老化系统由机架(PSS COCW2010)和单层老化箱(PSS COCL004)组成,夹具单独配置,支持定制,可联系销售人员。

老化系统和测试机分别设计了上位机软件,界面分别如下:


COC老化软件界面可显示10*4抽屉的老化进度、老化温度,点击每个抽屉,可展开32颗芯片的老化电流、电压、背光电流数据、阈值结果;软件可记录操作过程日志以及所发生的异常。

COC测试软件支持定位每颗芯片位置,自动完成LIV扫描以及光谱测试,满足温度,扫描电流等参数的配置,支持本地或服务器存储数据,方便分析。


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