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普赛斯PSS LD-BI1536-I LD老化炉监控系统用于老化LD器件,提高LD器件的品质。该系统通过给LD器件提供恒流来达到对器件工作老化。同时可控制器件工作环境温度,达到高温下工作老化的功能。在老化过程中,对器件工作环境温度实时监控,同时对器件的驱动电流以及背光电流进行实时监控测试,并对测试数据进行记录,可对老化失效器件进行追述。最大老化量可对1536只器件同时进行老化。
产品特点
1。 提供0—250mA的老化电流,支持2.5G/10G LD的老化
2. 支持Im扫描计算Ith
3。 可配置LD输出过压保护
4. 两个独立老化箱体,可以独立配置老化不同的产品
5。 温度范围最大可达200℃
6. 内置UPS电源,意外断电保护
技术指标
参数 | 指标 |
独立温区数 | 2 |
温箱温度范围 | 40℃~200℃ |
温度精度 | ±2℃ |
升温过冲 | ≤3℃ |
长期温度稳定性 | 0。5℃ |
温度均匀性 | 3℃,空载时≤2℃ |
升温速度 | 100℃/半小时 |
降温速度 | —— |
温度设置方式 | 设备触屏或按键与设备电脑程控 |
备用电源 | 系统自带 UPS 稳压电源 |
系统供电 | AC 380/50Hz |
满载老化量 | 1536Pcs (2*12*64) |
系统应用 | TO-56 LD 老化测试 |
管脚定义支持 | 至少支持下图 1 中红色标识的 6 种封装 |
LD 驱动电流 | 0-250mA,±1%FS±1mA |
PD 反偏电压 | 0~5V,±1% FS±0.2V |
LD 正向电压 | 0。3V,±1% FS±0.2V |
LD 监控电流 | 0~250mA,±1% FS±1mA |
PD 监控电流 | 0~2000uA,±1% FS±5uA |
LIV 扫描是否支持 | 支持 Im 扫描计算 Ith |
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