资料下载申请

LD老化炉监控系统

普赛斯PSS LD-BI1536-I LD老化炉监控系统用于老化LD器件，提高LD器件的品质。该系统通过给LD器件提供恒流来达到对器件工作老化。同时可控制器件工作环境温度，达到高温下工作老化的功能。在老化过程中，对器件工作环境温度实时监控，同时对器件的驱动电流以及背光电流进行实时监控测试，并对测试数据进行记录，可对老化失效器件进行追述。最大老化量可对1536只器件同时进行老化。

产品特点

1。提供0—250mA的老化电流,支持2。5G/10G LD的老化

2. 支持Im扫描计算Ith

3. 可配置LD输出过压保护

4。两个独立老化箱体，可以独立配置老化不同的产品

5. 温度范围最大可达200℃

6. 内置UPS电源,意外断电保护

技术指标

参数	指标
独立温区数	2
温箱温度范围	40℃~200℃
温度精度	±2℃
升温过冲	≤3℃
长期温度稳定性	0。5℃
温度均匀性	3℃,空载时≤2℃
升温速度	100℃/半小时
降温速度	——
温度设置方式	设备触屏或按键与设备电脑程控
备用电源	系统自带 UPS 稳压电源
系统供电	AC 380/50Hz
满载老化量	1536Pcs （21264）
系统应用	TO-56 LD 老化测试
管脚定义支持	至少支持下图 1 中红色标识的 6 种封装
LD 驱动电流	0-250mA，±1%FS±1mA
PD 反偏电压	0~5V，±1% FS±0.2V
LD 正向电压	0.3V，±1% FS±0。2V
LD 监控电流	0~250mA,±1% FS±1mA
PD 监控电流	0~2000uA，±1% FS±5uA
LIV 扫描是否支持	支持 Im 扫描计算 Ith