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EML器件老化测试系统

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       普赛斯EML器件老化测试系统用于EML器件的老化测试,过程监控,老化系统读取SOCKET板中器件的热敏电阻值,获取器件温度;读取电流、电压、背光电流和EA的功率,实现对32路器件的实时监控测试,提高EML器件的产品质量。

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产品详情

1。支持单台设备携带32颗器件老化测试,可多台设备组网老化更多颗器件

2.模拟应用场景老化:模拟实际EML器件的调制方式,支持EA电压的AC调制老化;

3。实时监控:测试器件内部的热敏电阻Rth,实时反映器件内部温度,可间接反映老化箱温度

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