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老化监控测试系统

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EML器件老化测试系统

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       普赛斯EML器件老化测试系统用于EML器件的老化测试,过程监控,老化系统读取SOCKET板中器件的热敏电阻值,获取器件温度;读取电流、电压、背光电流和EA的功率,实现对32路器件的实时监控测试,提高EML器件的产品质量。

产品特点

1.支持单台设备携带32颗器件老化测试,可多台设备组网老化更多颗器件

2。模拟应用场景老化:模拟实际EML器件的调制方式,支持EA电压的AC调制老化;

3。实时监控:测试器件内部的热敏电阻Rth,实时反映器件内部温度,可间接反映老化箱温度

技术指标


项目

要求

备注

通道数

32

 

监控方式

实时监控

 

软件

PC端,可提供DLL

支持本地和远程数据库

Chip

LD驱动电流

0~150mA

0~50mA  精度0。2%±1mA

50~150mA 精度0.3%±1mA

LD电压保护

<2。5V

<2.5V可调,精度0.3%±1mA

Mpd反相电压

0~-5V

精度1%±50mV

Mpd电流监控

0~1uA

1uA~3mA

分辨率1nA,精度0。3%±2nA

精度:精度0。2%±5uA

EA

Vea

-3V~2V

可调,精度1%±50mVAC模式1k-10kHz

电流保护

80mA

精度1.2%±1mA

TEC

Rth温度监控

 

实时测试电阻大小来计算温度

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