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64路LD-TE测试系统

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       用于在不同温度环境下,连续测试64路OSA器件(TOSA、BOSA)的LD端综合参数测试以及不同温度下的综合参数对比。该系统配套测试夹具可在多种环境下自动分别测试64路LD器件的LIV等参数,实现多路的TE(Tracking Error)和TC(Temperature Cycle)测试,可用于器件的可靠性和性能分析。

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产品详情

1、环境测试效率高:同时连续测试环境条件下的64只器件,单颗LIV测试效率<1s;

2、数据分析功能:可保存LD测试的数据和回放各种参数及特征曲线图片,自动对比不同温度下的参数指标。

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