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BOB测试

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    普赛斯电子推出全新的BOB TX/RX生产调试测试方案,该方案采用插卡组合系统,最大化减少设备占用空间,减少生产环节的复杂搭线,支持10G 1270/1577nm下的BOB产品调试测试,采用调试和校准差错进行,避免调试、测试的单固定通道带来的系统影响,8工位设计最大化提供生产的产能和效率。

BOB测试方案框图



方案特点

1. 支持8工位光猫并行、独立调测

2。 支持2。5GPON10GPON调测

3. 支持消光比测试,无需眼图仪,高性价比

4. 支持调试和校准差错进行,避免调试、测试的单固定通道带来系统影响

5. 插卡式组合方案,集成度高,节约空间,维护成本低,适用大规模生产线

方案详情

单通道光路示意图

误码仪设备提供不同速率、码型的信号光源

光衰减器用于改变产品接收下行光源功率大小

消光比测试仪集成WDM将上行光和下行光进行分开,并将上行光进行分路,消光比测试并进行发射光功率检测

光开关将产品调试和测试光路进行交叉切换




测试方案

产品名称

产品型号

BOB多工位
测试方案

插卡式光口误码仪

PSS BERT15G-O

插卡式光衰

PSS DOA-C

插卡式消光比测试仪

PSS ERM20102

插卡式光开关

PSS OPS-22

插卡式主机

PSS SMC-I

 


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