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OSA器件插卡式测试

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普赛斯采用插卡式组合方案,根据客户需求,灵活配置,解决各种结构复杂的OSA器件的测试问题。既可以实现BOSA器件的快速测试,又可以实现结构复杂的Combo PON器件的一键测试。支持不同封装的 DFBEML TOSA器件的LIV综合测试,也支持不同速率APDPINTIA器件的接收灵敏度,响应度,暗电流等指标的测试。模拟器件实际应用环境,并进行内部光路的隔离度和光串扰测试,真实反映器件的性能。







方案特点

1、采用插卡式组合方案,配置灵活,设备集成度高,占用体积空间小

2、支持的器件种类多,测试指标全

3、测试效率高,支持一体测试

4、EOS防护:包括静电,浪涌,过流保护设计,合理的APD加电顺序控制

5、RS232接口,普通PC即可连接,无需额外的接口要求

6、软件兼容性好:不同器件类型和各种测试参数均为可选项

7、型号设置过程简单,测试操作方便,软件主界面测试结果和数据显示醒目

8、数据库存储灵活,提供的本地数据库或是网络服务器数据库链接接口

9、数据管理分析操作简单,独立的数据查询分析软件方便客户对测试数据进行管理

方案详情

上位机软件测试界面如下:


                                       

器件类型和测试条件可任意配置,支持VBR、暗电流、灵敏度、饱和光功率、响应度、光隔离度、Xtalk串扰,Ith、正向电压、背光电流、功率,暗电流,斜效率以及Kink点、EaPo等参数测试。

现有成熟的2.5G10G25G ROSABOSA的测试方案,以及结构复杂的Combo PON器件的综合测试解决方案,各方案配置型号如下:

12.5G BOSA器件测试方案:PSS BOSA02501

210G BOSA器件测试方案:PSS BOSA01001

310G ROSA器件测试方案:PSS ROSA01001

425G ROSA器件测试方案:PSS ROSA25001(不支持回损测试)、PSS ROSA25002(支持回损测试);

5Combo PON器件测试方案:PSS CPON01001

各测试方案都配套设计有操作简单的测试夹具,解决用户所有测试难点。


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